關于點陣像簡述 點陣像


關于點陣像簡述 點陣像

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1、點陣像即衍
2、1956年J.W.門特首先拍攝到酞菁銅和酞菁鉑的一維點陣像,分辨開了間距為 10~12┱的晶面族 。令不在一列上的若干衍射束(三束以上)成像時,得到二維點陣像(圖2) 。其中的斑點(或條紋)代表晶體點陣在像平面上的投影 。因此,從一維和二維點陣像上能直觀地看到晶體點陣的周期 , 晶體中的位錯、層錯以及異類晶體的交生等也都能在點陣像上直觀地反映出來(圖1) 。拍攝點陣像時,依入射束是否與電子顯微鏡的光軸重合,是否通過物鏡光闌中心而有對稱照明與傾斜照明之分 。點陣像的分辨率除與電子顯微鏡的分辨本領有直接關系外,還取決于參與成像衍射束的最大空間頻率(見光學信息處理) ,但后者又因物鏡球差而不能隨意增大 。
【關于點陣像簡述 點陣像】3、70年代初,電子顯微鏡的分辨本領已經達到原子量級 。當用厚度小于100┱的極薄晶體拍攝高分辨率的點陣像時,在合適的欠焦量下,這種高分辨率的點陣像與晶體結構沿入射電子束方向的投影相似,不僅能反映出晶體點陣的周期,還可分辨出晶體結構中的原子或原子團,所以稱為結構像(圖3),可用來直接觀察晶體結構和晶體缺陷 。
4、結構像的襯度屬相位襯度,可借助電子衍射動力學理論來解釋 。在實際工作中,常用多層法計算結構像的襯度,以與實驗像相對比,從而確定晶體的結構和缺陷 。圍繞著結構像成像技術、成像理論、理論像模擬計算和圖像處理等工作的發展,在電子顯微學的領域中,形成了一個高分辨電子顯微學的新分支 。
5、參考書目
6、襯技術見電子衍襯像和點陣像技術 。
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